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晶片控制探針

人類表達譜晶片 Human OneArray® v5
 
為確保晶片數據品質,華聯技術團隊經過一連串的測試及驗證, 設計一系列的品質控制探針,包含: 定位標記控制探針、掃描強度參考探針、內部品質控制探針、陰性控制探針等, 以監控完整的晶片實驗步驟,如樣品 RNA 完整性、樣品 RNA 放大流程、螢光標記效率、晶片雜交與晶片掃描等, 以確保產品及數據的品質。


定位標記控制探針
定位標記控制探針主要是用來輔助晶片及掃描的定位,依功能不同,又可歸類為三種, 包含定向校準標記 (OGAM, Orientation Grid Alignment Mark)、 角點校準標記 (CGAM, Corner Grid Alignment Mark) 及矩陣校準標記 (GAM, Grid Alignment Mark)。
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掃描強度參考探針
掃描強度參考探針是兩組具有濃度梯度特性的探針,主要的功能是利用探針濃度與訊號螢光強度相對應的關係, 用來調整掃描器的條件設定。此兩組探針分別以 Cy3 及 Cy5 進行預標記, 不需要經過雜交反應就可以產生 532 nm (Cy3) 或 635 nm (Cy5) 的激發, 每一組個包含 8 個濃度梯度,每一濃度的代表探針有 3~6 重複。
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內部品質控制探針
為了監測樣品備製備過程中 RNA 放大的效率、樣品 RNA 的完整性及雜交效率等, 在每一晶片上設計有三組內部品質控制探針,分別為內部雜交對照探針 (IHC, Intrinsic Hybridization Control) 、 內部雜交對照梯度訊號探針 (IHL, Intrinsic Hybridization Ladder)、內部目標品質對照 (ITQC, Intrinsic Target Quality control)。
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陰性控制探針
晶片實驗的設計上,常需要利用陰性探針 (Negative Control) 的設計來監測或確認實驗的流程。 因此,在 OneArray® 晶片的針設計上,加入 ArrayControl™ RNA SPIKE 探針組及外部品質控制探針組 (ETQC), 此兩組探針與目標基因皆不會產生雜交的反應,可規劃作為監控實驗流程的外源性探針。
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